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Electromigration and Electronic Device Degradation

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Electromigration and Electronic Device Degradation Christou
Libristo-Code: 04892340
Verlag John Wiley & Sons Inc, Februar 1994
Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the... Vollständige Beschreibung
? points 682 b
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Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.

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