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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: CRC Press
SKU: 47351441
Price: 106.69 EUR
Availability: InStock
Author: D.K. Bowen
ISBN: 9781135478605

D.K. Bowen

Brian K. Tanner

Sprache

Englisch

E-Book Adobe ePub DRM

Verlag CRC Press, Februar 1998

The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for re... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 47351441

261 b

106.69 € inkl. MwSt.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Autor D.K. Bowen, Brian K. Tanner

Sprache

Englisch

Einband E-Book - Adobe ePub DRM

Datum der Veröffentlichung 1998

Anzahl der Seiten 252

EAN 9781135478605

Libristo-Code 47351441

Verlag CRC Press

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik > Optische Physik

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Umweltwissenschaften, Umwelttechnik

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