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VLSI Test Principles and Architectures

Name: VLSI Test Principles and Architectures
Brand: Elsevier Science & Technology
SKU: 02703621
Price: 79.89 EUR
Availability: InStock
Author: Laung-Terng Wang
ISBN: 9780123705976

Laung-Terng Wang

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 02703621

Verlag Elsevier Science & Technology, August 2006

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a tes... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 02703621

196 b

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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name VLSI Test Principles and Architectures

Autor Laung-Terng Wang

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2006

Anzahl der Seiten 808

EAN 9780123705976

ISBN 0123705975

Libristo-Code 02703621

Verlag Elsevier Science & Technology

Gewicht 1806

Abmessungen 200 x 241 x 51

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Energietechnik, Elektrotechnik und Energiemaschinenbau > Elektrotechnik

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