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Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
Surface Roughness-Practical Example
Sprache
Englisch
Englisch
Buch
Broschur
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capab...
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Libristo-Code: 07085730
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127 b
127 b
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AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.
Schauspielerin
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Informationen zum Buch
Vollständiger Name
Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
Autor
Md.Abu Sayeed, Zakia Ferdous
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
Buch - Broschur
Datum der Veröffentlichung
2012
Anzahl der Seiten
72
EAN
9783848400355
Libristo-Code
07085730
Gewicht
118
Abmessungen
152 x 229 x 4
Kategorie
