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Semiconductor Material and Device Characterization 3e

Name: Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 01389606
Price: 261.99 EUR
Availability: InStock
Author: Dieter K. Schroder
ISBN: 9780471739067

Dieter K. Schroder

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 01389606

Verlag John Wiley & Sons Inc, Jänner 2006

Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the cha... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 01389606

641 b

261.99 € inkl. MwSt.

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Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the characterization techniques used by the modern semiconductor industry to measure diverse semiconductor materials and devices. It covers the full range of electrical and optical characterization methods while thoroughly treating the more specialized chemical and physical techniques. In the third edition, Professor Schroder has rewritten parts of each chapter and added two new chapters (Charge Based Measurements and Failure Analysis and Reliability), redrawn and updated most figures, and included new problems and approximately 100 new references.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Semiconductor Material and Device Characterization 3e

Autor Dieter K. Schroder

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2006

Anzahl der Seiten 800

EAN 9780471739067

ISBN 0471739065

Libristo-Code 01389606

Verlag John Wiley & Sons Inc

Gewicht 1324

Abmessungen 243 x 238 x 51

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Elektronische Geräte und Materialien

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Energietechnik, Elektrotechnik und Energiemaschinenbau > Elektrotechnik

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