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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications Jacopo Franco
Libristo-Code: 02017347
Verlag Springer, Oktober 2013
Due to the ever increasing electric fields in scaled CMOS devices, reliability is becoming a showsto... Vollständige Beschreibung
? points 222 b
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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2013
Anzahl der Seiten 187
EAN 9789400776623
ISBN 9400776624
Libristo-Code 02017347
Verlag Springer
Gewicht 483
Abmessungen 155 x 235 x 19
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