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Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories

Name: Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories
Brand: VDM Verlag
SKU: 06836441
Price: 57.39 EUR
Availability: InStock
Author: Michele Ghidotti
ISBN: 9783639293616

Michele Ghidotti

Sprache

Englisch

Buch Broschur

Libristo-Code: 06836441

Verlag VDM Verlag, September 2010

The constant improvements in the silicon technology have resulted in a continuous reduction of the e... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 06836441

140 b

57.39 € inkl. MwSt.

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The constant improvements in the silicon technology have resulted in a continuous reduction of the electron devices feature size. These technological developments strongly impact in device performance. One of the most important reliability issues in the last technological nodes is the Random Telegraph Noise (RTN). This is phenomenon affects the threshold voltage (VT) of the memory cell. A physics-based statistical model is presented and validated. Beyond the 60nm technology node, the granularity of the charge stored in the device is not more negligible and this fact influences the accuracy to perform the program operation. The statistical nature of the electrons injection into the floating gate spreads the VT distribution of the array cells. The feature size reduction affects negatively the distribution and it becomes more and more difficult to control the cell VT by the program algorithm. Another issue in sub-100nm technologies concerns the cell-to-cell interference. The VT loss displays a dependence on the program pattern of the adjacent cells. All these phenomena contribute all together to corrupt the data stored, causing the memory failure and thus the worn-out.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories

Autor Michele Ghidotti

Sprache

Englisch

Einband Buch - Broschur

Datum der Veröffentlichung 2010

Anzahl der Seiten 180

EAN 9783639293616

ISBN 3639293614

Libristo-Code 06836441

Verlag VDM Verlag

Gewicht 272

Abmessungen 152 x 229 x 10

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein

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