Status der Bestellung anzeigen

Werden Sie Teil einer Gemeinschaft von Buchliebhabern aus der ganzen Welt und erhalten Sie eine Reihe von Vorteilen. Konto kostenlos anlegen

Kostenloser Versand mit Zásilkovna ab 69.99 €

Österreichische Post 5.49 € GLS-Kurier 4.99 € GLS-Kurier 4.99 € DPD-Kurier 3.99 € DPD-Stelle 2.99 €

Kontakt

Wie einkaufen

Hilfe

Mein Konto

▸ Leer :-(

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02017914
Price: 73.39 EUR
Availability: InStock
Author: Zhong Lin Wang
ISBN: 9780521017954

Zhong Lin Wang

Sprache

Englisch

Buch Broschur

Libristo-Code: 02017914

Verlag Cambridge University Press, August 2005

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), refl... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 02017914

180 b

73.39 € inkl. MwSt.

Externes Lager Wir versenden in 9-15 Tagen

30 Tage für die Rückgabe der Ware

Kunden kauften auch

Jano i Wito. Magiczne słowa Wołoszyn Wiola

Hardcover

7.49 €

Jane Eyre

Broschur

16.49 €

Hry šťastného dětství Aletha Solterová

Broschur

9.59 €

Sato Franz Kafka

Broschur

16.79 €

Encyclopedie de L'Islam Tome X T-U: Tome X T-U Th Bianquis

Hardcover

2 049.19 €

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.

Schauspielerin & Polyglotte

EWA KASP für

Video abspielen

Libristo bietet die größte Auswahl an fremdsprachiger Literatur an. Deshalb kaufe ich meine Bücher hier ein.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Autor Zhong Lin Wang

Sprache

Englisch

Einband Buch - Broschur

Datum der Veröffentlichung 2005

Anzahl der Seiten 460

EAN 9780521017954

ISBN 0521017955

Libristo-Code 02017914

Verlag Cambridge University Press

Gewicht 731

Abmessungen 170 x 244 x 25

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Naturwissenschaften, allgemein > Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik

Verschenken Sie dieses Buch noch heute

Es ist ganz einfach

1 Legen Sie das Buch in Ihren Warenkorb und wählen Sie den Versand als Geschenk 2 Wir schicken Ihnen umgehend einen Gutschein 3 Das Buch wird an die Adresse des beschenkten Empfängers geliefert