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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Brand: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
SKU: 13595194
Price: 173.49 EUR
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 9781848219366

Pierre-Richard Dahoo

Philippe Pougnet

Abdelkhalak El Hami

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 13595194

Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, August 2016

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Libristo-Code: 13595194

425 b

173.49 € inkl. MwSt.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Autor Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2016

Anzahl der Seiten 316

EAN 9781848219366

ISBN 1848219369

Libristo-Code 13595194

Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc

Gewicht 618

Abmessungen 167 x 241 x 24

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft > Werkstoffprüfung

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Nanotechnologie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Andere Technologien und verwandte Wissenschaften > Angewandte Optik

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