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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01382200
Price: 214.29 EUR
Availability: InStock
Author: Manoj Sachdev
ISBN: 9780387465463

Manoj Sachdev

José Pineda de Gyvez

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 01382200

Verlag Springer-Verlag New York Inc., Juni 2007

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 01382200

524 b

214.29 € inkl. MwSt.

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The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without the insight into the physics of nano-metric technologies, it would be hard to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. Obviously, the work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Autor Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2007

Anzahl der Seiten 328

EAN 9780387465463

ISBN 0387465464

Libristo-Code 01382200

Verlag Springer-Verlag New York Inc.

Gewicht 694

Abmessungen 155 x 235 x 24

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Konstruktion, Entwurf

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Energietechnik, Elektrotechnik und Energiemaschinenbau > Elektrotechnik

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