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Computer Vision for X-Ray Testing

Name: Computer Vision for X-Ray Testing
Brand: Springer International Publishing AG
SKU: 15194137
Price: 71.69 EUR
Availability: InStock
Author: Domingo Mery
ISBN: 9783319372020

Imaging, Systems, Image Databases, and Algorithms

Domingo Mery

Sprache

Englisch

Buch Broschur

Libristo-Code: 15194137

Verlag Springer International Publishing AG, Oktober 2016

This accessible textbook presents an introduction to computer vision algorithms for industrially-rel... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 15194137

175 b

71.69 € inkl. MwSt.

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This accessible textbook presents an introduction to computer vision algorithms for industrially-relevant applications of X-ray testing. Features: introduces the mathematical background for monocular and multiple view geometry; describes the main techniques for image processing used in X-ray testing; presents a range of different representations for X-ray images, explaining how these enable new features to be extracted from the original image; examines a range of known X-ray image classifiers and classification strategies; discusses some basic concepts for the simulation of X-ray images and presents simple geometric and imaging models that can be used in the simulation; reviews a variety of applications for X-ray testing, from industrial inspection and baggage screening to the quality control of natural products; provides supporting material at an associated website, including a database of X-ray images and a Matlab toolbox for use with the book's many examples.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Computer Vision for X-Ray Testing

Autor Domingo Mery

Sprache

Englisch

Einband Buch - Broschur

Datum der Veröffentlichung 2016

Anzahl der Seiten 347

EAN 9783319372020

ISBN 3319372025

Libristo-Code 15194137

Verlag Springer International Publishing AG

Gewicht 6297

Abmessungen 155 x 235 x 19

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Fertigungstechnik und Ingenieurwesen > Zuverlässigkeitstechnik

EDV und Informationstechnologie > Informatik > Künstliche Intelligenz > Mustererkennung

EDV und Informationstechnologie > Informatik > Bildverarbeitung

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